I-V測試解決方案助您了解I-V特性分析中常見的測量

如果您正在研發未來的材料或器件,需要進行I-V供電及測量,比如晶體管測量、太陽能電池、充電電池測量、低電阻測量等研究,我們將為您的I-V測量,提供全面的應用解決方案,向您展示實現這些研究所需的最新創新技術。

I-V測試解決方案合集內容,內容包括:

如何對充電電池進行特性分析?

如何進行太陽能電池I-V特性分析?

如何進行晶體管I-V特性分析?

如何使用大電流進行低阻測量?

充電電池自發循環

充電電池或二次電池是筆記本電腦、視頻游戲控制器、移動電話、數碼相機和程控設備等電子設備中常見的,用來取代一次電池。為了改進或取代現有電池技術,研究人員正在研究延長充電電池壽命以及降低充電電池成本的方法。

通常使用放電和充電 (Galvanic) 循環對充電電池進行特性分析。循環測試提供有關電池內部化學、容量、可用周期數和壽命等信息。在生產測試中,經常進行放電 / 充電周期測試,以驗證電池規格,確保其沒有缺陷。

使用大電流進行低阻測量

測量低電阻有助于識別可能隨時間變化的電阻要素,以及它們是否增加超過接收的阻值。通常,開始時在測量低電阻,然后稍后再測量電阻,以確定環境、熱量、疲勞、腐蝕、振動或可能發生的其他條件變化是否影響器件或材料降級是否影響。

利用大電流測量低電阻 (<100W ) 時,首先施加電流 (I),然后測量作為結果的電壓 (VM)。源測量單元 (SMU) 等儀器能夠自動計算電阻。測得的未知電阻之間的電壓取決于供應的電流量和電阻值。低阻測量容易受到引入誤差源,包括引線電阻、熱電壓和器件自熱。

文章來源北京凡實測控技術有限公司    文章鏈接:http://www.laiamolins.com/IVCSJJFAWZ


2018年12月24日

泰克TDS3054C數字熒光示波器產品技術資料
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